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Experimental study on real-time measurement of single-event effects of 14 nm FinFET and 28 nm planar CMOS SRAMs based on Qinghai-Tibet Plateau 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2023, 卷号: 72, 期号: 14
作者:  Zhang, Zhan-Gang;  Yang, Shao-Hua;  Lin, Qian;  Lei, Zhi-Feng;  Peng, Chao;  He, Yu-Juan
收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2024/03/01
FinFET  neutron  single event upset  soft error