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Imaging the atomic-scale electronic states induced by a pair of hole dopants in Ca2CuO2Cl2 Mott insulator 期刊论文
Science Bulletin, 2021, 卷号: 66, 期号: 14
作者:  Li H.;  Ye S.;  Zhao J.;  Jin C.;  Wang Y.
收藏  |  浏览/下载：34/0  |  提交时间：2021/09/01
Charge transfer gap  Cuprates  Impurity state  Mott insulator  Scanning tunneling microscopy