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Temperature-dependent electrical characteristics of neutron-irradiated GaN Schottky barrier diodes 期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2021, 卷号: 125
作者:  Zhu, Min;  Ren, Yuan;  Zhou, Leidang;  Chen, Jiaxiang;  Guo, Haowen;  Zhu, Liqi;  Chen, Baile;  Chen, Liang;  Lu, Xing;  Zou, Xinbo
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