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Study on the bias-dependent effects of proton-induced damage in CdZnTe radiation detectors using ion beam induced charge microscopy 期刊论文
MICRON, 2016, 卷号: 88
作者:  Gu, Yaxu;  Jie, Wanqi;  Rong, Caicai;  Xu, Lingyan;  Xu, Yadong;  Lv, Haoyan;  Shen, Hao;  Du, Guanghua;  Guo, Na;  Guo, Rongrong;  Zha, Gangqiang;  Wang, Tao;  Xi, Shouzhi
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Proton  Radiation damage  Ion beam induced charge microscopy  CdZnTe  Bias dependent