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Thickness scaling of ferroelectricity in BiFeO 3 by tomographic atomic force microscopy 期刊论文
Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America, 2019, 卷号: 116, 期号: 7
作者:  Steffes J.J.;  Ristau R.A.;  Ramesh R.;  Huey B.D.
收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2021/01/06