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Snow albedo sensitivity to macroscopic surface roughness using a new ray-tracing model 期刊论文
Cryosphere, 2020, 卷号: 14, 期号: 5
作者:  Larue F.;  Picard G.;  Arnaud L.;  Ollivier I.;  Delcourt C.;  Lamare M.;  Tuzet F.;  Revuelto J.;  Dumont M.
收藏  |  浏览/下载：34/0  |  提交时间：2021/09/01